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雙變頻介質(zhì)損耗分析儀

更新日期:2024-05-24

訪問次數(shù): 569

簡要描述:

LYJS9000G雙變頻介質(zhì)損耗分析儀采用數(shù)字陷波技術(shù),避開了工頻電場對測試的干擾,從根本上解決了強(qiáng)電場干擾下準(zhǔn)確測量的難題。同時(shí)適用于全部停電后用發(fā)電機(jī)供電檢測的場合。該儀器配以絕緣油杯加溫控裝置可測試絕緣油介質(zhì)損耗。

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1   LYJS9000G雙變頻介質(zhì)損耗分析儀   

是發(fā)電廠、變電站等現(xiàn)場或?qū)嶒?yàn)室測試各種高壓電力設(shè)備介損正切值及電容量的高精度測試儀器。儀器為一體化結(jié)構(gòu),內(nèi)置介損測試電橋,可變頻調(diào)壓電源,升壓變壓器和SF6 高穩(wěn)定度標(biāo)準(zhǔn)電容器。測試高壓源由儀器內(nèi)部的逆變器產(chǎn)生,經(jīng)變壓器升壓后用于被試品測試。頻率可變?yōu)?0Hz、47.5Hz52.5Hz、45Hz55Hz、60Hz、57.5Hz62.5Hz、55Hz65Hz,采用數(shù)字陷波技術(shù),避開了工頻電場對測試的干擾,從根本上解決了強(qiáng)電場干擾下準(zhǔn)確測量的難題。同時(shí)適用于全部停電后用發(fā)電機(jī)供電檢測的場合。該儀器配以絕緣油杯加溫控裝置可測試絕緣油介質(zhì)損耗。

儀器主要具有如下特點(diǎn):

絕緣電阻測試

儀器集成絕緣電阻測試模塊,可進(jìn)行極化指數(shù)、吸收比以及絕緣電阻的測試。

LCR全自動(dòng)測量

全自動(dòng)電感、電容、電阻測量,角度顯示。

多種測試模式

儀器能夠分別使用內(nèi)高壓、外高壓、內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)、外標(biāo)準(zhǔn)、正接法、反接法、自激法等多種方式測試;在外標(biāo)準(zhǔn)外高壓情況下可以做高電壓(大于10kV)介質(zhì)損耗。

CVT測試一步到位

該儀器還可以測試全密封的CVT(電容式電壓互感器)C1、C2的介損和電容量,實(shí)現(xiàn)了C1、C2的同時(shí)測試。該儀器還可以測試CVT變比和電壓角差。

不拆高壓引線測量CVT

儀器可在不拆除CVT高壓引線的情況下正確測量CVT的介質(zhì)損耗值和電容值。

CVT反接屏蔽法測量C0

儀器可采用反接屏蔽法測量CVT上端C0的介質(zhì)損耗值和電容值。

多重保護(hù)安全可靠

儀器具備輸入電壓波動(dòng)、高壓電流、輸出短路、電源故障、過壓、過流、溫度等多重保護(hù)措施,保證了儀器安全、可靠。儀器還具備設(shè)置接地檢測功能,確保不接地設(shè)備不允許升壓。

高速采樣信號(hào)

儀器內(nèi)部的逆變器和采樣電路全部由數(shù)字化控制,輸出電壓連續(xù)可調(diào)。

海量存儲(chǔ)數(shù)據(jù)

儀器內(nèi)部配備有日歷芯片和大容量存儲(chǔ)器,保存數(shù)據(jù)200組,能將檢測結(jié)果按時(shí)間順序保存,隨時(shí)可以查看歷史記錄,并可以打印輸出。

超大液晶中文顯示

操作簡單,儀器配備了優(yōu)異的全觸摸液晶顯示屏,超大全觸摸操作界面,每過程都非常清晰明了,操作人員不需要額外的專業(yè)培訓(xùn)就能使用。輕輕點(diǎn)擊一下就能完成整個(gè)過程的測量,是目前非常理想的智能型介損測量設(shè)備。

  LYJS9000G雙變頻介質(zhì)損耗分析儀工作原理

 

                   圖 2—1  測量原理圖

   主要技術(shù)參數(shù)

1

使用條件

-15℃∽40℃

RH<80%

2

抗干擾原理

變頻法

3

    

AC 220V±10%

允許發(fā)電機(jī)

4

高壓輸出

0.5KV∽10KV

每隔0.1kV

精度:2%

*大電流     

200mA

容量

2000VA

45HZ/55HZ   47.5HZ/52.5HZ

55HZ/65HZ   57.5HZ/62.5HZ     自動(dòng)雙變頻

5

自激電源

AC 0V∽50V/15A

6

  

tgδ: 0.001%

Cx: 0.001pF

7

    

△tgδ:±(讀數(shù)*1.0%+0.040%)

△C x :±(讀數(shù)*1.0%+1.00PF)

8

測量范圍

tgδ

無限制

C x

15pF < Cx < 300nF

10KV

Cx < 60  nF

  1KV

Cx < 300 nF

CVT測試

Cx < 300 nF

9

LCR測量范圍

L>20H(2kV)           

R>10KΩ(2kV)

精度:0.1%

分辨率:0.01

10

CVT變比范圍

10∽10000 精度0.1% 

分辨率:0.01

11

絕緣電阻

直流高壓0.5-10KV     精度:±(讀數(shù)×2%+10V)

100kΩ-1000GΩ時(shí)低于5%(試驗(yàn)電壓不低于250V)

100GΩ-1000GΩ時(shí)為10%(試驗(yàn)電壓不低于10000V)

12

外型尺寸(主機(jī))

350(L)×270(W)×270(H)

外型尺寸(附件箱)

350(L)×270(W)×160(H)

13

存儲(chǔ)器大小

200 組 支持U盤數(shù)據(jù)存儲(chǔ)

14

重量(主機(jī)):22.75Kg

重量(附件箱):5.25Kg

           

  面板說明

1.緊急停機(jī)按鈕及高壓指示燈

2.復(fù)位按鈕

3.U盤接口

4.總電源開關(guān)

5.AC220V電源輸入插座

6.:標(biāo)準(zhǔn)電容輸入插座

7.Cx:試品輸入插座

8.觸摸顯示屏

9.接地接線柱

10.ES自激輸出

11.打印機(jī)

12.高壓輸出HV插座

 

4.1、緊急停機(jī)按鈕及高壓指示燈

安裝位置:如圖4—1— eq oac(○,1)1。

    能:在儀器測試過程中有高壓輸出時(shí),遇緊急情況需要斷開高壓輸出,即可按下緊急停機(jī)按鈕立即從內(nèi)部切斷高壓輸出;按鈕內(nèi)置指示燈作為高壓輸出指示燈。

4.2、復(fù)位按鈕

安裝位置:如圖4—1— eq oac(○,2)2。

    能:提供儀器復(fù)位功能。 

4.3、U盤接口

 安裝位置:如圖4—1—③。

    能:可把儀器內(nèi)部保存的測試數(shù)據(jù)導(dǎo)入并保存到U盤中。

    意:數(shù)據(jù)傳輸過程當(dāng)中嚴(yán)禁拔出U盤,只有當(dāng)數(shù)據(jù)傳輸完畢后并且液晶屏上出現(xiàn)拔出U盤的提示后,方可拔出U盤,否則有可能燒毀U盤。

4.4、總電源開關(guān)

 安裝位置:如圖4—1—④。

     能:打開此關(guān),儀器上電進(jìn)入工作狀態(tài)。關(guān)閉此開關(guān),也同時(shí)關(guān)閉儀器內(nèi)部所有電源系統(tǒng),緊急情況應(yīng)立即關(guān)閉此開關(guān)并拔掉輸入電源線。

4.5、電源輸入插座

 安裝位置:如圖4—1—⑤。

     能:提供儀器工作電源。(AC 220V±10%)

 接線方法:使用標(biāo)準(zhǔn)插座與市電或發(fā)電機(jī)相連接。

     意:電源插座內(nèi)部帶有保險(xiǎn)管保護(hù)裝置,不正常情況下可燒毀保險(xiǎn)管保使儀器斷電,保護(hù)儀器內(nèi)部。  

4.6、標(biāo)準(zhǔn)電容器輸入Cn插座

 安裝位置:如圖4—1—⑥。

     能:外接標(biāo)準(zhǔn)測試信號(hào)。

 接線方法:外標(biāo)準(zhǔn)測試時(shí)電纜芯線接標(biāo)準(zhǔn)電容測試端,電纜屏蔽層接標(biāo)準(zhǔn)電容器屏蔽極。外標(biāo)準(zhǔn)測試時(shí)不管是正接法還是反接法測量,標(biāo)準(zhǔn)電容器接線方法不變。此方式用于外接高電壓等級(jí)標(biāo)準(zhǔn)電容器,實(shí)現(xiàn)高電壓介質(zhì)損耗測量。

4.7、試品低壓輸入Cx插座

安裝位置:如圖4—1—⑦。

功    能:正接法時(shí)輸入被試品測試信號(hào)。

接線方法:插座中心連接黑色信號(hào)線芯線;金屬外殼接黑色信號(hào)線屏蔽層;正接法時(shí)芯線接被試品低壓信號(hào)端,若被試品低壓信號(hào)端有屏蔽極(如低壓端的屏蔽環(huán)),則可將屏蔽層接于屏蔽極,無屏蔽極時(shí)屏蔽層懸空。

   意: · 在啟動(dòng)測試的過程中嚴(yán)禁拔下插頭,以防被試品電流經(jīng)人體入地。

· 用標(biāo)準(zhǔn)介損器或標(biāo)準(zhǔn)電容器檢測正接法精度時(shí),應(yīng)使用全屏蔽插頭連接介損器或標(biāo)準(zhǔn)電容器,否則暴露的芯線可能受到干擾引起誤差。

· 測試過程中應(yīng)保證插座中心測試芯線與被試品低壓端零電阻連接,否則可能引起測量結(jié)果的數(shù)據(jù)波動(dòng)。

· 強(qiáng)干擾下拆除接線時(shí),應(yīng)在保持電纜接地狀態(tài)下斷開連接,以防感應(yīng)電擊。

4.8、觸摸顯示屏(液晶屏應(yīng)避免長時(shí)間陽光暴曬,避免重物擠壓和利器劃傷)

安裝位置:如圖4—1— eq oac(○,8)8。

    能:全觸摸大屏幕(120mm×90mm)中文顯示,每一步操作清晰明了。

4.9、接地接線柱

 安裝位置:如圖4—1—⑨。

     能:儀器保護(hù)接地。

    意:儀器內(nèi)部自帶接地保護(hù)裝置,測試中應(yīng)當(dāng)保證可靠接入地網(wǎng)。否則儀器將自動(dòng)產(chǎn)生保護(hù)不開始升壓測試。      

4.10、ES自激輸出

安裝位置:如圖4—1—⑩。功    能:自激輸出,儀器內(nèi)部為自激輸出變壓器的一端(變壓器另一端已接地),自激法測試CVT介損時(shí)連接到CVT的自激線圈(da)上,dn接地,為CVT提供測量所需高壓電源。

   意: 因低壓輸出電流大,應(yīng)采用儀器連接線連接到CVT二次繞組并使其接觸良好,選擇正、反接法測量時(shí),此輸出關(guān)閉。

4.11、打印機(jī)

 安裝位置:如圖4—1— eq oac(○,11)11。

     能:顯示可打印數(shù)據(jù)時(shí),將光標(biāo)移動(dòng)至“打印”項(xiàng)按確認(rèn)鍵打印。

     意:打印機(jī)為全自動(dòng)熱敏打印機(jī),打印紙寬55mm。更換打印紙時(shí)請使用熱敏打印機(jī)打印紙,首先扳起打印機(jī)旁邊角,打開打印機(jī)蓋板,然后按順序?qū)⒋蛴〖埛湃氪蛴〖垈}內(nèi)并留少許部分在外面,*后合上打印機(jī)蓋板。 

4.12、高壓輸出HV插座  

 安裝位置:如圖4—2—?,外設(shè)保護(hù)門。

      能: 儀器變頻高壓輸出;檢測反接線試品電流;內(nèi)部標(biāo)準(zhǔn)電容器的高壓端。

 接線方法:插座中心連接紅色高壓線芯線;金屬外殼連接紅色高壓線屏           蔽層;正接法時(shí)芯線和屏蔽層都可以作加壓線對被試品高壓端加壓;反接法時(shí)只能用芯線對被試品高壓端加壓,若試品高壓端有屏蔽極(如高壓端的屏蔽環(huán)),則可將屏蔽層接于屏蔽極,無屏蔽極時(shí)屏蔽層懸空。

     意:· 在啟動(dòng)測試的過程中此插座帶有高壓有觸電危險(xiǎn),優(yōu)良禁止觸碰高壓插座及與之相連的相關(guān)設(shè)備。

· 用標(biāo)準(zhǔn)介損器或標(biāo)準(zhǔn)電容器檢測正接法精度時(shí),應(yīng)使用全屏蔽插頭連接介損器或標(biāo)準(zhǔn)電容器,否則暴露的芯線可能受到干擾引起誤差。

測試過程中應(yīng)保證插座中心紅色高壓線芯線與被試品高壓端零電阻連接,否則可能引起測量結(jié)果的數(shù)據(jù)波動(dòng)。

  使用說明

5.1、主菜單

打開電源開關(guān),進(jìn)入主菜單(如圖5—1);選擇界面右邊相應(yīng)的測試選項(xiàng)進(jìn)行測量。

※ 注:  儀器啟動(dòng)測試后,緊急情況若停止,只能按緊急停機(jī),不要按復(fù)位。

5.2、一般測試

首先根據(jù)相應(yīng)的接線提示接好儀器外部與被試品之間的連線,然后點(diǎn)擊主界面“一般測試”選項(xiàng),進(jìn)入下上等一般測試菜單(如圖5—2)。然后可以點(diǎn)擊“參數(shù)設(shè)置”進(jìn)去設(shè)置菜單(如圖5—3)進(jìn)行詳細(xì)的測試參數(shù)設(shè)置。

分別點(diǎn)擊每個(gè)需要設(shè)置的項(xiàng)目,按“增加”“減小”或“選擇”來修改。修改完成后點(diǎn)擊“保存”即可保存剛才所修改的參數(shù)并返回一般測試界面,點(diǎn)擊“取消”則不保存本次修改并返回一般測試界面。

相關(guān)參數(shù)設(shè)置好了后長按“啟動(dòng)測試”單,進(jìn)入測試菜單。測試過程中電壓值一項(xiàng)是根據(jù)先前所選擇的測試電壓平滑上升至設(shè)置值后保持不變,然后自動(dòng)開始測試。開始測試后根據(jù)先前所選擇的測試頻率自動(dòng)變頻到各相應(yīng)的頻率進(jìn)行測試,測試完成后自動(dòng)顯示測試結(jié)果(如圖5—4);測試結(jié)果自動(dòng)保存,可點(diǎn)擊“打印”按鈕打印本次測試結(jié)果。

   意:每一種測試的具體參數(shù)設(shè)置和接線方法請查看第六章“參考接線” 。

 

5.3、CVT測試

首先根據(jù)相應(yīng)的接線提示接好儀器外部的連線,然后點(diǎn)擊主界面“CVT測試”選項(xiàng),進(jìn)入下上等CVT測試菜單(如圖5—5)。然后可以點(diǎn)擊“參數(shù)設(shè)置”進(jìn)去設(shè)置菜單(如圖5—6)進(jìn)行詳細(xì)的測試參數(shù)設(shè)置。分別點(diǎn)擊每個(gè)需要設(shè)置的項(xiàng)目,按“增加”“減小”或“選擇”來修改。修改完成后點(diǎn)擊“保存”即可保存剛才所修改的參數(shù)并返回CVT測試界面,點(diǎn)擊“取消”則不保存本次修改并返回CVT測試界面。

相關(guān)參數(shù)設(shè)置好了后長按“啟動(dòng)測試”單,進(jìn)入測試菜單(如圖5—7)。測試過程中電壓值一項(xiàng)是根據(jù)先前所選擇的測試電壓平滑至設(shè)置值后保持不變,然后自動(dòng)開始測試。開始測試后根據(jù)先前所選擇的干擾頻率自動(dòng)變頻到相應(yīng)的頻率進(jìn)行測試,測試完成后自動(dòng)顯示測試結(jié)果(如圖5—8)。測試結(jié)果自動(dòng)保存,可點(diǎn)擊“打印”按鈕打印本次測試結(jié)果。

    意:每一種測試的具體參數(shù)設(shè)置和接線方法請查看第六章“參考接線” 。

 

5.4、CVT變比測試

首先根據(jù)相應(yīng)的接線提示接好儀器外部的連線, 進(jìn)入CVT測試菜單在參數(shù)設(shè)置中選擇“CVT變比測試”,然后返回開始測試界面(如圖5—9),長按“啟動(dòng)測試”開始測量(如圖5—10),測試完成后自動(dòng)顯示測試結(jié)果(如圖5—11)。測試結(jié)果自動(dòng)保存,可點(diǎn)擊“打印”按鈕打印本次測試結(jié)果。  

              

5.5、正反同測

首先根據(jù)相應(yīng)的接線提示接好儀器外部的連線, 進(jìn)入正反同測菜單,在參數(shù)設(shè)置中選擇設(shè)置需要測試的高壓電壓,然后保存返回(如圖5—12),長按“啟動(dòng)測試”開始測量,測試完成后自動(dòng)顯示測試結(jié)果(如圖5—13)。測試結(jié)果自動(dòng)保存,可點(diǎn)擊“打印”按鈕打印本次測試結(jié)果。

5.6、LCR測試

首先根據(jù)相應(yīng)的接線提示接好儀器外部與被試品之間的連線,按照【正接法(常規(guī)接線)】或者【反接法(常規(guī)接線)】然后點(diǎn)擊主界面“LCR測試”選項(xiàng),進(jìn)入下上等LCR測試菜單。

然后可以點(diǎn)擊“參數(shù)設(shè)置”進(jìn)去設(shè)置菜單進(jìn)行詳細(xì)的測試參數(shù)設(shè)置。分別點(diǎn)擊每個(gè)需要設(shè)置的項(xiàng)目,按“增加”“減小”或“選擇”來修改。修改完成后點(diǎn)擊“保存”即可保存剛才所修改的參數(shù)并返回一般測試界面,點(diǎn)擊“取消”則不保存本次修改并返回一般測試界面。長按“啟動(dòng)測試”開始測量,測試完成后自動(dòng)顯示測試結(jié)果(如圖5—14)。測試結(jié)果自動(dòng)保存,可點(diǎn)擊“打印”按鈕打印本次測試結(jié)果。

5.7、絕緣測試

首先根據(jù)相應(yīng)的接線提示接好儀器外部與被試品之間的連線,然后點(diǎn)擊主界面“絕緣測試”選項(xiàng),進(jìn)入下上等絕緣測試菜單。然后可選擇測試方式為正接法或反接法,選擇合適的測試電壓。設(shè)置好相關(guān)參數(shù)之后即可點(diǎn)擊下方“極化指數(shù)”“吸收比”“絕緣電阻”進(jìn)行測試。

5.8、數(shù)據(jù)查詢

在主菜單點(diǎn)擊“數(shù)據(jù)管理”進(jìn)入數(shù)據(jù)管理界面(如圖5—16),點(diǎn)擊“數(shù)據(jù)查詢”進(jìn)入。進(jìn)入數(shù)據(jù)存放菜單(如圖5—17)后,按上、下鍵移動(dòng)光標(biāo)至想要查看的數(shù)據(jù)項(xiàng)目上,(儀器所保存的數(shù)據(jù)均是按照測量時(shí)間的先后所排列的,第000個(gè)數(shù)據(jù)即*新數(shù)據(jù),第199個(gè)數(shù)據(jù)即*老數(shù)據(jù)。)再點(diǎn)擊相應(yīng)的數(shù)據(jù),進(jìn)入數(shù)據(jù)打印項(xiàng)目,在此菜單里面可以按上,下鍵翻頁至相應(yīng)的數(shù)據(jù)序號(hào)上,可對數(shù)據(jù)進(jìn)行打印操作。

5.9、參數(shù)設(shè)置

打開儀器后直接點(diǎn)擊“參數(shù)設(shè)置”進(jìn)入時(shí)間設(shè)置界面。進(jìn)入時(shí)間菜單(如圖5—18)后,點(diǎn)擊想要修改的時(shí)間數(shù)據(jù)項(xiàng)目上,然后再按增加、減小鍵調(diào)整相應(yīng)的“時(shí)” 、“分” 、“秒” ,*后點(diǎn)擊保存修改時(shí)間設(shè)置,點(diǎn)擊取消退出設(shè)置并返回主界面。

※ 注:

所有圖片并非實(shí)物的全部描敘,請以實(shí)際儀器界面為主,僅做參考。

所有步驟在設(shè)置不當(dāng)或想再次改變的情況下,均可按取消鍵返回上一步驟,如果按取消鍵不能實(shí)現(xiàn)返回。則可以直接按復(fù)位鍵退到主菜單重新開始設(shè)置。

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